Giglia V., Gauthier V., Hemakumara T., Sundaram R., Drouin D., Pioro-Ladriere M., Nicolay S.
Ключевые слова: LTS, NbN, thin films, magnetic field dependence, high field tests, microstructure, X-ray irradiation, Hall effect, resistive transition, resistivity, temperature dependence, upper critical fields
IEEE Transactions Applied Superconductivity, 2023, v.33, N 2, p.7500106
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.